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簡要描述:堀場X射線熒光分析儀型號MESA-50K
堀場X射線熒光分析儀
型號MESA-50K
為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。后續HORIBA發布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀,后續MESA-50系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器,As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。
應用:
對涂層進行無損的厚度和成分分析、固體廢物管理和修復服務中的固體廢物燃燒器和焚化爐、電子行業的顯微XRF 分析、鉛污染的玩具分析
特點
1. 快速
硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時間,在高通量的同時提供了更高的靈敏度
2. 小巧
便攜、體積小、重量輕
內部電池供電
3. 簡單
減少日常維護工作(無需液氮)
無需真空泵
各種材料測量直觀簡單
4. 智能
英文/日文/中文多語言操作界面
Excel數據管理工具
5. 安全
無需擔心 X 射線泄漏
技術參數
基礎項
原理
能量分散性X射線熒光光譜
目標應用
RoHS, ELV, Halogen Free
測量元素
13Al - 92U
樣品類型
固體, 液體, 粉末
X-ray 發生器
X-ray管
Max 50kV, 0.2mA
X-ray輻射尺寸
1.2mm, 3mm, 7mm (自動切換)
X-ray初級過濾器
4 types (自動切換)
檢測器
類型
SDD (Silicon Drift Detector)
信號處理器
數字脈沖處理器
樣品倉
大氣環境
空氣
樣品觀察
CCD相機
樣品倉尺寸
460 x 360 x 150 mm [W x D x H]
應用
操作
PC (Windows® 7)
電源
100-240V, 50/60Hz
儀器尺寸
590 x 590 x 400 mm [W x D x H]
重量
60 kg
軟件
分析功能
多層膜FPM法(可選)
Sb/As分析(可選)
*Windows是微軟公司的注冊商標.
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